这些变量反过来关乎系统级的设计选择，比如磁体尺寸、磁体布置(同轴或偏轴)、磁体材料和机械公差。因此要求角度传感器IC具有一定的灵活性，能够适应这些潜在的误差源，不致增加系统级设计的复杂性和成本。即使最好的磁性角度传感器IC也好不过它检测的磁场性能。

磁性角度测量系统有两个主要的误差来源：

●与传感器IC有关的误差：内在固有的非线性，参数化温度漂移和噪声。

●与磁性输入有关的误差：场强变化和场强的非线性。

角度误差是指磁体的实际位置与角度传感器IC测量得到的磁体位置之偏差。这种测量是通过读取角度传感器IC的输出并与高分辨率编码器相比较完成的。

对一次完整旋转“合计后的”角度误差被定义为角度精度误差，它是根据下列公式进行计算的：

角度精度误差=(Emax–Emin)/2

换句话说，它是与理想直线之间的偏差幅度，范围在0°和360°之间。

当在设计中使用磁体时，在整个旋转范围内的磁性输入可能不是均匀的：它具有固有误差。这些磁性输入误差将导致系统中的测量误差，并且在考虑具有较高内在磁性误差的侧轴或偏轴设计时这点将变得特别重要，如图1所示。

如果来自磁性输入的误差贡献值占主导地位，那么即使经过最精确校准的角度传感器IC也会产生不精确的结果。在大多数情况下，即使同轴磁性设计也会发生相对较大的错位问题，这此问题通常发生在生产线中的用户模块装配期间。这些磁性误差源是不可避免的，而且减小这些误差通常不可能做到，就是即使能够减小一点其代价也非常高。

至于与角度传感器IC有关的误差，制造商在向客户交付产品之前都会对非线性和参数化温度漂移进行优化，而噪声性能则可以针对客户应用利用片上滤波功能进行优化。

先进的线性化

本文介绍了一种角度传感器IC(Allegro公司的A1332)。这款传感器通过使用先进的线性化技术在客户的末端制造位置补偿这些误差来解决这个问题。具体地讲，它展示了与磁性输入相关的±20°以上的误差如何能够通过线性化降低至±0.3°：大约改进了65倍。

这种线性化可以根据角度传感器IC周围的目标磁体的单次旋转数据完成。从这种旋转读取的角度数据用于产生线性化系数，然后被存储进片上的EEPROM，最终为这个磁性系统优化这个特定的角度传感器IC。

在A1332角度传感器IC中用了两种不同的线性化技术：分段式线性化和谐波线性化。

这两种技术都可以通过使用Allegro公司提供的软件计算系数并编程片载EEPROM来实现。

●分段式线性化是一种可编程的功能，允许调整角度传感器IC的传输特性，以便在施加的磁场矢量角度中的线性变化可以被角度传感器IC输出为对应的线性角度增量。这种线性化是对从角度传感器IC周围的磁体一次旋转收集到的数据执行的。

对两种技术的比较测试表明，虽然分段式线性化技术可以实现更短的处理时间，但在校正正弦误差项方面的能力很有限。在这方面，谐波线性化技术能够做的更好。另外，谐波线性化方法的灵活性——特别是改变所用校正谐波数量的能力——允许用户在运算时间和误差性能之间取得最佳平衡。测试表明，在应用了线性化技术后，±20°的角度误差可以减小到±0.3°之内。

分段式线性化

图2显示了用分段线性化和不用分段线性化技术时的角度传感器的角度输出。为了获得这些结果，必须创建初始的线性化系数值。用户可以在从0到360°的完整旋转范围内以1/16的间隔获得15个角度样本。然后应用分段式线性化算法。图3显示了在使用分段线性化技术前后通过减去参考编码器值后获得的角度误差，而图4是在应用分段式线性化技术后放大查看的角度误差情况。